De Horizontal Four-wave Dynamic Interferometer beschikt over een vier-golffront transversale optische common-path interferometer met variabele afschuifsnelheid, waardoor de mogelijkheden van traditionele visuele laser planaire interferometers volledig worden gedigitaliseerd en verbeterd. Dit systeem is compact ontworpen, biedt stabiele interferentieranden en maakt gebruik van zelfinterfererende golffronttechnologie om de vervorming en golffronttransmissie in parallelle vlakken nauwkeurig te meten, waardoor het zeer geschikt is voor kwaliteitscontrole in productieomgevingen. Bovendien biedt onze apparatuur een uitzonderlijke kosteneffectiviteit en biedt het een hoogwaardige oplossing voor gebruikers.
Productnaam |
Horizontale viergolfs dynamische interferometer |
Detecteerbare monsteropening (mm) |
Tot 100 zijn er twee verwisselbare diafragmagroottes: 40 en 100 |
CCD-pixels |
2048*2048 |
Golflengte (nm) |
633±10 |
Dynamisch bereik (um) |
100 |
Precisie PV-waarde (λ) |
Beter dan 1/10 golflengte |
Herhaalbaarheid van RMS-metingen (λ) |
1/1000 golflengte |
Gevoeligheid (nm) |
2 |
Realtime weergaveframesnelheid (Hz) |
15 |
Het systeem is voorzien van willekeurige apparatuur |
Beeldverwerkingscomputer |
Verwerkingssoftware |
De software "Industrial Window Component Distortion Detection Instrument" kan realtime uitgangsgolffrontwaarden weergeven, zoals PV-waarde, RMS-waarde en POWER-waarde |
Totale afmetingen (inclusief monsterplatform) (mm) |
600 (lengte) x 300 (breedte) x 180 (hoogte) |
Totaal gewicht (KG) |
30 |
◆Gemeenschappelijke pad-zelfinterferentie - geen referentievlak vereist
◆Goede real-time prestaties, in staat om dynamische detectie van tientallen frames te bereiken
◆Goede trillingsbestendigheid, geen noodzaak voor isolatieplatforms, kan worden toegepast voor testen in gewone werkplaatsomgevingen
◆Goede kosteneffectiviteit, eenvoudige aanpassing en compacte structuur
De BOJIONG Horizontale Viergolf Dynamische Interferometer werd vergeleken met de resultaten verkregen van de ZYGO GPI-interferometer, die momenteel internationaal veel wordt gebruikt. De gemiddelde waarden van PV, RMS en POWER voor hetzelfde onderdeel werden berekend nadat ze afzonderlijk in twee apparaten waren gemeten, en de resultaten waren consistent. De apparatuur is op het werkplaatsterrein aangebracht.
◆Detectie van straalkwaliteit en detectie van transiënte golffronten
◆Optische flatpanelcomponenten, saffiersubstraten, precisiemetalen oppervlakken en andere oppervlaktevormen, evenals detectie van transmissiegolffronten
◆Detectie van vervorming van vlakglas in smartphones en high-definition bewakingsvensters
◆Biokwantitatieve fasemicroscopiebeeldvorming
◆Kan worden gebruikt voor uiterst nauwkeurige detectie van de beeldkwaliteit van optische systemen
◆Detectie van adaptieve optische golffrontdetectie en andere aspecten
Transmissiegolffrontdetectieresultaten van saffiercomponenten |
Oppervlaktevormdetectie van optische componenten |
BOJIONG heeft de Horizontal Four-wave Dynamic Interferometer ontwikkeld, waarbij gebruik wordt gemaakt van het common-path zelf-interferentieprincipe van de FIS4 vier-wave interferometrische sensor. Dit apparaat is in staat tot real-time oppervlaktevormdetectie voor vlakke optische elementen binnen een opening van 100 mm. De straal die de oppervlaktevorminformatie van het gemeten element draagt, wordt door een speciaal gecodeerd rooster gebogen, dat het golffront horizontaal in vier delen verdeelt, waardoor een tweedimensionaal interferentiepatroon ontstaat met vier golffronten in common-path-shearing. Door dit tweedimensionale interferentiepatroon te demoduleren, kan de precieze oppervlaktecontourinformatie van het element worden vastgelegd. Professionele softwaremodule
◆Uitgerust met de "Horizontal Four-wave Dynamic Interferometer"-software, kan het systeem real-time 3D-beelden van het gemeten optische elementvlak weergeven en uitvoeren, en ook belangrijke oppervlaktemeetparameters bieden, zoals piek-tot-vallei ( PV), Root Mean Square (RMS) en Power Spectral Density (POWER) waarden.
◆Bovendien beschikt de software over de mogelijkheid om ruwe meetgegevens te exporteren, waardoor nauwkeurige kwantitatieve analyse-ondersteuning wordt geboden over een breed spectrum van onderzoeksgebieden, en gebruikers in staat worden gesteld om daaropvolgende data-analyses en diepgaand onderzoek gemakkelijker uit te voeren.
Adres
Nr. 578 Yingkou Road, Yangpu District, Shanghai, China
Tel
E-mailen