BOJIONG is een toonaangevende fabrikant, leverancier en exporteur van China Machine Vision Inspection. Heb een sterk technisch team en een after-sales servicegarantie. Vasthouden aan het streven naar perfecte kwaliteit van producten, zodat onze Machine Vision Inspection door veel klanten tevreden is gesteld. Extreem design, hoogwaardige grondstoffen, hoge prestaties en een concurrerende prijs zijn wat elke klant wil, en dat is ook wat wij u kunnen bieden. Essentieel is natuurlijk ook onze perfecte after-sales service. U kunt er zeker van zijn dat u bij ons op maat gemaakte Machine Vision Inspection koopt. We kijken ernaar uit om met u samen te werken. Als u meer wilt weten, kunt u ons nu raadplegen, wij zullen u tijdig antwoorden!
Voordelen van machine vision-inspectie: Gebaseerd op circulaire microverstrooiende donkerveldbeeldvorming, resolutie tot 0,5 μm, scancombinatie met hoog en laag vermogen, voor het bereiken van een groot bereik aan uiterst nauwkeurige detectie, detectie van microdefecten op macroschaal, automatische planning volgens naar de oppervlaktevorm van het scannen van de subapertuur, automatische uitvoer van digitale rapporten, compatibel met nationale normen, militaire normen, internationale tabellen, statistische rapporten, enz. AI Deep learning is gebaseerd op de machine learning-theorie, via een hiërarchisch leerproces dat op hoog niveau extraheert Complexe abstracties als datarepresentaties en deep learning-methoden produceren sneller resultaten dan standaard machine learning-methoden. Het is geschikt voor automatische detectie van uiterlijke gebreken bij Machine Vision Inspection.
De automatische, snelle en uiterst nauwkeurige detectie van defecten aan glas- en metaaloppervlakken kan worden gerealiseerd met behulp van Machine Vision Inspection, waarmee het probleem van lage efficiëntie en slechte nauwkeurigheid van visuele detectie effectief kan worden opgelost. Het is geschikt voor de kwaliteitscontrole van oppervlaktedefecten van het scherm van mobiele telefoons, beeldschermen, optische componenten, componenten met weinig licht, metalen productoppervlakken, siliciumwafels, enz. Het apparaat kan automatisch rapporten uitvoeren in de volgende formaten: U.S.Miitary Standard MIL- PRF-13830A/B, ISO10110-7, GB/T 1185-2006. Voor optische componenten: waferoppervlakte-nanometer, submicron-defectdetectie en sferische, asferische oppervlaktedefectdetectie op sub-micronniveau.
