Bojiong (Shanghai) Precision Machinery Technology Co., Ltd
Bojiong (Shanghai) Precision Machinery Technology Co., Ltd
Producten
AOI450 Oppervlakdefectdetector voor optische componenten
  • AOI450 Oppervlakdefectdetector voor optische componentenAOI450 Oppervlakdefectdetector voor optische componenten

AOI450 Oppervlakdefectdetector voor optische componenten

Met de komst van kunstmatige intelligentie en de dringende wereldwijde vraag naar automatiseringsupgrades is de AOI450 Optical Component Surface Defect Detector ontworpen om te voldoen aan de uiteenlopende behoeften van klanten op het gebied van automatisering. Dit apparaat is in staat tot automatische, snelle en uiterst nauwkeurige detectie van optische componenten en optische ruiten, waardoor de problemen van lage efficiëntie en slechte nauwkeurigheid die gepaard gaan met handmatige visuele inspectie effectief worden opgelost. Het is geschikt voor kwaliteitscontrole van oppervlaktedefecten op schermen van mobiele telefoons en beeldschermen. Voor vragen en problemen kunt u ons altijd een e-mail sturen. Wij zullen zo snel mogelijk reageren.

De AOI450 optische component-oppervlaktedefectdetector kan optische componenten en optische ruiten inspecteren. Het beschikt over een detectieresolutie tot 0,5 micrometer en een maximale inspectieopening van 450 mm bij 450 mm. Het apparaat kan automatisch rapporten uitvoeren, met formaten zoals de Amerikaanse militaire standaard MIL-PRF-13830A/B en de internationale standaard ISO10110-7.

 

Artikelspecificatie:


productnaam

AOI450 Oppervlakdefectdetector voor optische componenten

Maximale detectiegrootte

450 mm x 450 mm

Detectieresolutie

0,5 μm

Detectiemethode

Donkerveldarray-scanning

Uitvoerrapporten

Nationale normen, Amerikaanse militaire normen en op maat gemaakte bedrijfsrapporten.

 

Kenmerk van BOJIONG AOI450 detector voor oppervlaktedefecten voor optische componenten



De AOI450 optische component-oppervlaktedefectdetector maakt gebruik van machine vision-technologie om geautomatiseerde, snelle en uiterst nauwkeurige detectie van oppervlaktedefecten op optische componenten en optische ruiten te bereiken, waardoor de problemen van lage efficiëntie en slechte nauwkeurigheid bij visuele inspectie effectief worden aangepakt. De hoogste detectieresolutie kan 0,5 micrometer bereiken en de maximale detectieopening kan zo groot zijn als 450 mm bij 450 mm. De gebruikte beeldtechnologie omvat ringvormige verlichting en donkerveldbeeldvorming met microverstrooiing. Het apparaat kan automatisch rapporten genereren, met formaten zoals de Amerikaanse militaire standaard MIL-PRF-13830A/B en de internationale standaard ISO 10110-7.


AOI450 Toepassingsgebieden voor oppervlaktedefectdetector voor optische componenten




Geschikt voor kwaliteitscontrole van oppervlaktedefecten in optische componenten, optische vensterwafels, siliciumwafels, saffierwafels, enz.

Polijstfouten: krassen, putjes, chippen, luchtbellen, vuil, enz.

Deze apparatuur kan de volgende soorten defecten verwerken:

Coatingdefecten: delaminatie, beschadiging van de coating, enz.



◆ Ringvormige verlichting met meerdere stralen

◆ Beeldvorming met variabele vergroting met opties voor hoge en lage vergroting

◆ Detectienauwkeurigheid van 0,5 μm

◆ Detectie van meerdere wafers op hele platen

◆ Lineaire motor voor snelle beeldvorming

◆ Uitgerust met een FFU (Fan Filter Unit) om de interne reinheid te garanderen

Ringvormige beeldverlichting met meerdere stralen



Automatische zoommicroscoop van 1X tot 8X.


Verstelbare snelklemming voor de gehele plaat.


Zeer nauwkeurige 2D-lineaire motoren zorgen voor de nauwkeurigheid van snelle opnamen.


AOI intelligente inspectiesoftware




Militaire standaard spreadsheetuitvoer


Weergave van testresultaten




Kras op het oppervlak van de coating.

 

Krassen

 

Laserschadeplek 1

Laserschadeplek 2

 

Deeltjespunt op nanoschaal

 

Vezel

 

Component-vervloeiing

 

beschadiging van de membraanlaag


Parameter AOI450 Optische componentoppervlaktedefectdetector

 

AOI450 Oppervlakdefectdetector voor optische componenten

Item

Beschrijving

Model

AOI450

Apparatuur Functie

Kwantitatieve defectdetectie voor vlakke optische componenten met ultraglad oppervlak en uitvoer van elektronische rapporten volgens de detectieresultaten zoals de Amerikaanse militaire standaard, de nationale standaard en de internationale standaard.

Maximale detectiegrootte

450 mm x 450 mm

Detectieprecisie

Lage vergroting 5μm, hoge vergroting 0,5μm

Klemmethode

Klemmen van hele platen of klemmen uit één stuk, ondersteunende vierkante en ronde klemming.

Nivellerende methode

Volledig plaatmateriaal ondersteunde automatische scherpstelling, elektrische waterpasstelling.

Beeldvormingsmethode

Ringvormige verlichting, microverstrooiing donkerveldbeeldvorming, in overeenstemming met de "Kwantitatieve detectiemethode voor oppervlaktedefecten van optische componenten - Microverstrooiing donkerveldbeeldvormingsmethode", beschreven in de nationale norm GB/T 41805-2022.

Detectiemethode

Scannaden met lage vergroting, positioneringskwantificering met hoge vergroting.

Scanmechanisme

2D-lineaire motor, slag 150 mm × 150 mm.

Cameraparameters

Grote doelcamera, 5 miljoen pixels.

Rapportformaat

Excel, Word-formaat, Amerikaanse militaire standaard, nationale standaard, internationale standaard of bedrijfsstatistisch rapport.

Industriële pc-configuratie

i7-processor, 32 GB geheugen, 1T harde schijf, 6 GB videogeheugen.

Afmetingen van apparatuur

900 mm × 800 mm × 2000 mm (L × B × H)

Voedingsspanning

220V ± 10%

 

 

Hottags: AOI450 Oppervlaktedefectdetector voor optische componenten, China, fabrikant, leverancier, kwaliteit, fabriek, prijs, geavanceerd, nieuwste
Stuur onderzoek
Contact informatie
Voor vragen over de interferometrische sensor, Wavefront Analyzer, Wavefront sensor of prijslijst kunt u uw e-mailadres achterlaten en wij nemen binnen 24 uur contact met u op.
X
We use cookies to offer you a better browsing experience, analyze site traffic and personalize content. By using this site, you agree to our use of cookies. Privacy Policy
Reject Accept