Het kan het te testen object snel vervangen en is eenvoudig aan te passen. De Horizontal Planar Dynamic Interferometer beschikt over een vier-golffront transversale afschuif-common-path-interferometer met een variabele afschuifsnelheid. Het interferometersysteem heeft een compacte structuur en stabiele interferentieranden. Het systeem maakt gebruik van zelfinterfererende golffronttechnologie om vervormingen in parallelle vlakken en uitgezonden golffronten te detecteren, waardoor het bijzonder geschikt is voor kwaliteitscontrole ter plaatse in de werkplaats. De apparatuur biedt een hoge kosten-prestatieverhouding.
productnaam |
Horizontale vlakke dynamische interferometer |
Detecteerbare monsteropening (mm) |
Tot 100 zijn er twee verwisselbare diafragmagroottes: 40 en 100 |
CCD-pixels |
2048*2048 |
Golflengte (nm) |
633±10 |
Dynamisch bereik (um) |
100 |
Precisie PV-waarde (λ) |
Beter dan 1/10 golflengte |
Herhaalbaarheid van RMS-metingen (λ) |
1/1000 golflengte |
Gevoeligheid (nm) |
2 |
Realtime weergaveframesnelheid (Hz) |
15 |
Het systeem is voorzien van willekeurige apparatuur |
Beeldverwerkingscomputer |
Verwerkingssoftware |
De software "Industrial Window Component Distortion Detection Instrument" kan realtime uitgangsgolffrontwaarden weergeven, zoals PV-waarde, RMS-waarde en POWER-waarde |
Totale afmetingen (inclusief monsterplatform) (mm) |
600 (lengte) x 300 (breedte) x 180 (hoogte) |
Totaal gewicht (KG) |
30 |
◆Goede real-time prestaties, in staat om dynamische detectie van tientallen frames te bereiken
◆Gemeenschappelijke pad-zelfinterferentie - geen referentievlak vereist
◆Goede trillingsbestendigheid, geen noodzaak voor isolatieplatforms, kan worden toegepast voor testen in gewone werkplaatsomgevingen
◆Goede kosteneffectiviteit, eenvoudige aanpassing en compacte structuur
De BOJIONG Horizontal Planar Dynamic Interferometer werd vergeleken met de resultaten verkregen van de ZYGO GPI-interferometer, die momenteel internationaal veel wordt gebruikt. De gemiddelde waarden van PV, RMS en POWER voor hetzelfde onderdeel werden berekend nadat ze afzonderlijk in twee apparaten waren gemeten, en de resultaten waren consistent. De apparatuur is op het werkplaatsterrein aangebracht.
◆Detectie van straalkwaliteit en detectie van transiënte golffronten
◆Optische flatpanelcomponenten, saffiersubstraten, precisiemetalen oppervlakken en andere oppervlaktevormen, evenals detectie van transmissiegolffronten
◆Biokwantitatieve fasemicroscopiebeeldvorming
◆Detectie van vervorming van vlakglas in smartphones en high-definition bewakingsvensters
◆Kan worden gebruikt voor uiterst nauwkeurige detectie van de beeldkwaliteit van optische systemen
◆Detectie van adaptieve optische golffrontdetectie en andere aspecten
Transmissiegolffrontdetectieresultaten van saffiercomponenten |
Oppervlaktevormdetectie van optische componenten |
BOJIONG heeft de Horizontal Planar Dynamic Interferometer ontwikkeld op basis van het principevoordeel van gemeenschappelijke pad-zelfinterferentie van de FIS4-interferometrische sensor met vier golven. Dit apparaat kan real-time detectie uitvoeren van de oppervlaktevorm van vlakke optische elementen binnen een opening van 100 mm. De bundel die de oppervlaktevorminformatie van het gemeten element draagt, buigt door een speciaal gecodeerd rooster, waardoor het golffront horizontaal in vier wordt verdeeld en een gemeenschappelijk pad van vier golffronten wordt gevormd dat een tweedimensionaal interferentiepatroon afschuift. Door de tweedimensionale interferentie te demoduleren, wordt de oppervlaktevorminformatie van het element verkregen.
◆Uitgerust met de "Horizontal Planar Dynamic Interferometer"-software, kan het real-time 3D-beelden van het gemeten optische elementvlak weergeven en uitvoeren, PV-waarden, RMS-waarden en POWER-waarden van het gemeten oppervlak uitvoeren.
◆Tegelijkertijd ondersteunt de software het exporteren van ruwe gegevens van meetresultaten, het bieden van kwantitatieve detectiegegevensondersteuning voor verschillende onderzoeken en het faciliteren van gebruikers om in de toekomst data-analyse en onderzoek uit te voeren.
Adres
Nr. 578 Yingkou Road, Yangpu District, Shanghai, China
Tel
E-mailen