Nieuws

Ultrahoge resolutie van 512 x 512 (262144) fasepunten, waardoor uiterst nauwkeurige golffrontmetingen in de band van 900 nm tot 1200 nm worden bereikt, die kunnen worden gebruikt voor het meten van optische systeemaberraties, optische systeemkalibratie, meting van de interne roosterdistributie van materiaal, metasurface, superlens golffrontmeting, enz.

Speciaal ontwikkeld voor golffrontanalyse in snelle industriële, defensie- en wetenschappelijke onderzoeksscenario's zoals vliegende schoten en stromingsvelden, heeft het een ultrahoge resolutie van 420×420 (176400) fasepunten, een breed spectrumrespons van 400-1100 nm, en 107 frames voor snelle bemonstering, die een ideaal meetinstrument voor golffrontdetectie bieden voor detectie van de oppervlakteruwheid van wafels, micromorfologiemetingen op basis van silicium en glassubstraten, aerodynamische optica, hogesnelheidsstroomveld, gasplasmadichtheidsmeting, enz.

Ontworpen om wetenschappelijk onderzoek en zeer nauwkeurige industriële scenario's te ondersteunen, kan een hogere resolutie meer gedetailleerde informatie bieden bij golffrontdetectie, ultrahoge resolutie van 512×512 (262144) fasepunten, 400-1100 nm brede spectrumrespons, 10 frames met volledige resolutie real-time 3D-resultaatweergave, biedt ideale meetinstrumenten voor golffrontdetectie voor golffrontdetectie met laserstralen, adaptieve optica, vlakoppervlakmeting, kalibratie van optisch systeem, optisch venster detectie, optische sferische oppervlaktemeting, detectie van oppervlakteruwheid, oppervlaktemicrocontour, enz.

Speciaal ontwikkeld voor gemakkelijke interferometrische metingen in de industrie, wetenschappelijk onderzoek en nationale defensie. Hoge resolutie van 300 x 300 (90.000) fasepunten, 400-1100 nm brede spectrale respons, 10 frames met real-time 3D-resultaatweergave met volledige resolutie, wat een ideaal meetinstrument voor golffrontdetectie biedt voor golffrontdetectie met laserstralen, adaptieve optica, optisch systeem kalibratie, optische vensterdetectie, oppervlaktevorm van het optische vlak, meting van de sferische oppervlaktevorm, oppervlakteruwheid, detectie van microcontouren op het oppervlak, enz.